光栅是由大量等宽等间距的平行狭缝构成的光学器件。
一般常用的光栅是在玻璃片上刻出大量平行刻痕制成，刻痕为不透光部分，两刻痕之间的光滑部分可以透光，相当于一狭缝。
精制的光栅，在1cm宽度内刻有几千条乃至上万条刻痕。
这种利用透射光衍射的光栅称为透射光栅。
光栅常数，是指光栅两刻线之间的距离，用d表示，包括了透光部分和不透光部分长度之和，是光栅的重要参数。
在大学物理实验中，有光谱谱线测量，衍射条纹观测，光栅常数测定等实验。
在实验当中所使用的光栅，一般光栅常数在几百个纳米左右，比如d=650nm。
光栅常数一般和可见光波长差不多数量级。
也用于测量频率、损耗等电参量及一些可转换为电参数的非电量。
交流元件的电参数主要有电阻、电感、电容等。
残量主要指影响交流元件电参数量值和性能的次要微小因素，一般与电参数有不同的量纲，如电阻时间常数、电容损耗角、互感角差等。
交流电桥由直流电桥演化而来。
早期的交流电桥曾用音叉振荡器作为交流电源，用类似听筒的器具作为检测仪表。
交流电桥由交流电源供电，两个桥臂提供电压比值或电流比值，用以比较另外两桥臂的阻抗。
20世纪50年代出现了利用电磁感应耦合臂供给电压比值或电流比值的交流电桥，称感应耦合比例臂电桥。
其测量准确度比经典交流电桥高几个数量级。
同时，由于电子技术的发展,大量半导体器件被用于构成桥臂，形成有源电桥。
大学物理实验中双臂电桥与惠斯通电桥的区别：双臂电桥用来测量低电阻，因惠斯通电桥已将电表内阻对电路影响消除，而在测低阻值电阻时要将导线电阻与接触电阻对电路影响减小，因而对惠斯通电桥改进成开尔文双臂电桥。
一、双臂电桥：单臂电桥不适于测量1欧姆以下的小电阻，这是因为当被测电阻很小时，由于测量中连接导线的电阻和接触电阻的影响，造成很大的测量误差，直流双臂电桥曾称凯尔文电桥，可以消除接线电阻和接触电阻的影响，是一种专门用来测量小电阻的电桥。
二、惠斯通电桥：惠斯通电桥，在1833年由塞缪尔・亨特・克里斯蒂发明，1843年由查尔斯・惠斯通改进及推广的一种测量工具，它用来精确测量未知电阻器的电阻，原理与原始的电势差计相近，由于是否有电流经过是十分敏感的，惠斯登桥可以获取颇精确的测量。